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마그네틱 엔코더는 얼마나 신뢰 가능한가요?

RM22, RE22, RM36, RE36는 모두 홀 센서ASICs를 기반으로 하고 있습니다. 이 센서의 신뢰도는 아래와 같은 세부 사항에 따른 가속 수명 시험을 거쳐 계산되었습니다.

작은 PCBs에 설치되어 있는 40개의 센서는 온도, 시간, 전압을 바꿔가며 수 많은 응력 시험을 견뎌냈습니다. 모든 칩은 아래 응력 테스트 조건으로 실험되었습니다.

응력 시험:

  • 장치 개수 = 40
  • 응력에 노출된 총 시간 = 1932 시간
  • 파괴 = 0

시험 단계:

 

단계

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

온도 [°C]

125

140

150

160

170

140

150

160

170

160

공급 전압 [V]

5

5

5

6

6

6

5

5

5

5

시간 [h]

95

21

22

22

114

168

166

164

160

1000

 

신뢰도 - 통계학적 계산

가정:

  • 가장 일반적인 두 가지 저하 메커니즘:
    • 산화물 층의 저화 (활성화 에너지 = 0.5 eV)
    • 금속화 저감 (활성화 에너지 = 1eV)
  • IC의 저하 메커니즘은 모든 응력 사이클에서 동일합니다.

 

 

파괴 / 105 년

신뢰성

60%

90%

활성화 에너지

0.5 eV

1 eV

0.5 eV

1 eV

응력 당시 온도

85 °C

673

39

1691

100

125 °C

3381

1025

8532

2584

 

MTTF (파괴까지 평균 시간) 년 / 파괴

신뢰성

60%

90%

활성화 에너지

0.5 eV

1 eV

0.5 eV

1 eV

응력 당시 온도

85 °C

149

2564

59

1000

125 °C

30

98

12

39

 

예시:

최악의 경우에 90% 신뢰도로 1eV 활성화 에너지, 125 °C에서 100,000년에 2,584개의 잠재적 파괴을 추측할 수 있습니다. 같은 조건에서 MTTF(파괴까지 평균 시간)로는 39년당 1개의 잠재적 파괴이 계산됩니다.

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