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磁気式エンコーダの信頼性は?

RM22、RE22、RM36、RE36 は、すべて共通のホールセンサー ASIC を使用しています。これらのセンサーの信頼性は、次に詳細を示した加速寿命テストから計算しています。

小型 PCB に取り付けた 40 のセンサーに対して、温度、時間、電圧を変化したいくつかのストレステストを実施しました。各ストレステストの後に、すべてのICを確認しました。

ストレステスト:

デバイス数 = 40

ストレスをかけた合計時間 = 1932 時間

故障 = 0

テスト手順のステップ:

ステップ

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

温度 [°C]

125

140

150

160

170

140

150

160

170

160

供給電圧 [V]

5

5

5

6

6

6

5

5

5

5

時間 [hours]

95

21

22

22

114

168

166

164

160

1000

 

信頼性 - 統計的計算

仮定条件:

最も一般的な 2 つの劣化メカニズム:

酸化膜層の悪化(活性化エネルギー = 0.5 eV)

金属被覆の低減(活性化エネルギー = 1 eV)

ICの劣化メカニズムは、すべてのストレスサイクルで同じです。

故障/ 105

確度

活性化エネルギー

ストレステストの温度

MTTF(平均故障寿命)年 /故障

例:

最悪のケースを推定した場合、活性化エネルギー 1 eV、温度 125℃では、10 万年で 2,584 回の故障が発生することを確度 90% で予想できます。同じパラメータを使用した場合の MTTF(平均故障寿命)は、39 年間で 1 回の故障の可能性になります。

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