磁性編碼器的可靠性如何？

RM22、RE22、RM36、RE36 均以常見的霍爾效應感測器 ASIC 作為基礎。此類感測器的可靠性已透過加速壽命試驗加以計算，詳情如下。

我們將 40 個感測器安裝於小型 PCB 上，並藉由變化溫度、時間及電壓，來對其進行多項壓力測試。每組晶片均經過各項壓力測試。

壓力測試：

• 裝置數量 = 40
• 壓力測試總時數 = 1932 小時
• 故障 = 0

測試程序階段：

可靠性 – 統計計算

假設：

• 兩種常見劣化機制：
  • 氧化層劣化（活化能 = 0.5 eV）
  • 金屬化還原（活化能 = 1 eV）
• 所有壓力測試循環期間的 IC 劣化機制均相同。

例如：

在最壞的情況下，經 1 eV 活化能與 125 °C 溫度測試，我們以 90% 信賴度評估，每 100,000 年可能會產生 2,584 次故障。相同參數下，MTTF（平均故障時間）得出每 39 年會產生 1 次故障的可能性。