磁编码器的可靠性如何？

RM22、 RE22、RM36和RE36都基于通用的霍尔传感器ASIC。这些传感器的可靠性是通过加速寿命测试算出的，详情见下。

安装在小型印刷电路板上的40个传感器进行了一系列压力测试，在测试中温度、时间和电压是变化的。在每次压力测试之间对每个芯片进行测试。

压力测试：

• 装置数 = 40
• 总计压力测试时间 = 1932 小时
• 故障 = 0

测试步骤：

可靠性—统计计算

假设：

• 两种常见的降解机理：
  • 氧化层的降解（活化能= 0.5 eV）
  • 金属层的还原（活化能= 1 eV）
• IC中的降解机理在所有压力循环中都相同。

例如：

在最差的情况下，我们预测90%的置信度，在活化能为1 eV、温度为125 °C的情况下有可能在10万年发生2584次故障。对于同样参数的MTTF（平均无故障时间），39年有可能发生一次故障。